檢索結果:共3筆資料 檢索策略: "自動化及控制研究所".dept (精準) and ckeyword.raw="管制界限法"
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因目前3D顯示領域逐漸盛行,而其中光學薄膜部分因具有微結構,檢測上較一般薄膜困難,故本研究擬開發一套3D立體光學膜自動瑕疵檢測系統,欲檢測目前產線上所產生之瑕疵(直刻痕、橫刻痕、異物、壓點及紋理缺陷…
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本研究針對互補式金屬氧化物半導體影像感測器(CMOS image sensor, CIS)微型多層非球面透鏡組開發一套光學檢測系統。因CIS微型多層非球面透鏡組之構造為多層非球面透鏡之組合,當光線透…
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本研究主要針對彩色濾光片微觀瑕疵進行辨識與分類,檢測的瑕疵種類分為微粒(Grain)、黑色矩陣破洞(Black Matrix Hole, BMH)、透明導電膜(Indium Tin Oxide, I…